Detali paieška
Išorinės paslaugos

Radioelektronikos terminų žodynas

zòndais išbandýtų lustų̃ i̇̀šeiga

Atitikmuo (-ys)
prancūzų kalba - rendement des puces aux essais de sonde, m
Atitikmuo (-ys)
vokiečių kalba - Chipprüfausbeute, f
Atitikmuo (-ys)
rusų kalba - выход годных кристаллов ИС на операции зондовых испытаний, m
Atitikmuo (-ys)
anglų kalba - probed chip yield
Kalba

lietuvių

Autoriai

K. Gaivenis,

G. Juška,

V. Kalesinskas

Redaktoriai

V. Palenskis

Publikavimo informacija

Data

2000

Vieta

Vilnius

Leidėjas

Pavadinimas

BĮ UAB „Litimo“

Atsisiųsti ištekliaus įrašo informaciją
Vertimas pagal vertimas.vu.lt
anglų kalba: probe-tested chip iseiga
prancūzų kalba: sortie de la puce testée par sonde
vokiečių kalba: mit Sonden getesteter Chip-Ausgang
rusų kalba: испробованный зондами лист исейга
lenkų kalba: wyciąg chipa testowanego sondą

Komentuoti

Komentuoti gali tik prisijungę nariai.

Komentarai(0)

Komentarų nėra